半导体自动测验设备（ATE，Automatic Test Equipment）是检测芯片功用和功用的专用设备，测验设备对芯片施加输入信号，收集被检测芯片的输出信号与预期值作比较，判别芯片在不同作业条件下功用和功用的有效性。晶圆测验的对象是未划片的整个晶圆，归于在前端工序中对半制品的测验，意图是监控前道工艺良率，并下降后道封装本钱。而制品测验是对完结封装的集成电路产品做最终的质量检验，主要是针对芯片使用方面的测验，有些乃至是待机测验，以确保出厂产品的合格率。
据QYResearch调研团队最新陈述“全球半导体自动测验设备商场陈述2023-2029”显现，估计2029年全球半导体自动测验设备商场规模将到达78.4亿美元，未来几年年复合增长率CAGR为5.0%。
如上图表/数据，摘自QYResearch最新陈述“全球半导体自动测验设备商场研究陈述2023-2029.
图00002.全球半导体自动测验设备商场前9强生产商排名及商场占有率（2021数据，继续更新）
如上图表/数据，摘自QYResearch最新陈述“全球半导体自动测验设备商场研究陈述2023-2029中的2021年数据.
