SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案
STU 200 高 G 测试装置专门用于高加速度 MEMS 惯性传感器的最佳性能生产测试。该装置集成有装贴操作机和检测系统，提供高效率的交钥匙解决方案，能够更好的降低测试成本，同时满足一直在变化的测试需求。
本装置集成了器件电气和功能测试所需的各种元件，包括为了检验传感器是不是正常工作而需要的设备。
MEMS 器件可以同时在 XYZ 三个方向上刺激，节约了测试周期数，有助于减小测试时间（尤其是需要在相应温度下提供多个测试通道时）和器件损坏风险。
本装置具有一流的性能，受到 28g/90 Hz 刺激时的谐波失线 个生产周期中的谐波失真趋势：性能很稳定、可靠
电阻测量范围：1m1G
NEPCON是深耕汽车电子行业专业展会之一，在加速汽车电子产业技术进步、促进产业链协同发展发挥着非消极作用。7月24日，NEPCON将在上海国际汽车城瑞立酒店举办“NEPCON汽车电子智造创新大会”。此次盛会，汇聚汽车电子行业的领军人物、顶尖技术专家以及众多有名的公司的杰出代表，共同围绕”智能座舱&无人驾驶“、”电机电控“、“汽车电子可靠性测试技术”、“MEMS
创新引领 巨头云集 SPEA邀您打卡Semicon West 2024
SemiconWest被誉为北美地区最具影响力的半导体展会，吸引全球顶尖的半导体厂商、研究机构和专家人士，展示前沿创新技术与应用，推动产业链交融碰撞，已成为全世界半导体企业重要的技术交流平台、汇聚地和风向标。SemiconWest2024将于7月9—11日在旧金山莫斯康中心举办。作为半导体测试领域的领导者，SPEA当然不可能会缺席。我们将在南大厅965号展位展示创
SPEANews面对复杂多变的全球经济环境，SPEA追求长期价值创造，不断迭代升级产品和服务，与全球合作伙伴携手共进，构筑在自动化测试领域的独特优势。近日，SPEA举办的南欧和地中海区域合作伙伴会议圆满结束。SPEAhostedasuccessfulmeetingwithkeysalespartnersfromtheSouthEuropeandMediter
逐光向新，以质取胜SPEA T100L飞行扫描LED测试仪
LED正在塑造改变我们的生活方式，从健康照明到电视、电子设备屏幕等显示领域，从智能家居到交通建筑，LED为我们的生活带来诸多便利和惊喜。在过去几年中，全球LED市场持续旺盛，细分应用领域逐步扩大，随之而来的检测需求也持续不断的增加。SPEA以领军者的敏锐洞察力，迅速捕捉新兴变化带来的机遇，基于深厚的技术沉淀和产品创新驱动品牌前行。近期，SPEA推出T100L飞行扫描
探针卡是晶圆功能验证测试的关键工具，通常是由探针、电子元件、线材与印刷电路板（PCB）组成的一种测试接口，主要对裸die来测试。探针卡上的探针与芯片上的焊点或者凸起非间接接触，导出芯片信号，再配合相关测试仪器与软件控制实现自动化量测，测出、筛选出不良晶圆后，再进行封装，这一步骤与芯片良率及制造成本紧密关联。作为晶圆测试阶段的耗材，探针卡的造价高昂。业内对精密
近日，SPEA中国区总经理孙媛丽、半导体业务负责人PetrogalliElia、PratilloMarco一行到访芯派科技，受到了芯派科技董事长罗义热情接待。双方就半导体测试技术、市场趋势及未来合作等话题进行了深入交流。芯派科技持续聚焦MOSFET、IGBT、二极管等功率器件领域，是一家集研发、生产和销售为一体的先进功率器件系统方案提供商，其深厚的技术积累和
SPEA是电子测试领域的典范企业之一，与全球各国的高等教育院校保持着紧密合作，对推进行业人才培育与发展，赋能行业创新贡献了绵薄之力。近期，SPEA向泰国最负盛名的研究和教育学习管理机关KingMongkut’sInstituteofTechnologyLadkrabang（简称KMITL)捐赠了一台DOT半导体测试仪，双方在曼谷KMITL电子工程系举办了捐赠交接仪式
新能源汽车行业蒸蒸日上，驱动了锂电池市场爆发，但目前锂电池的缺陷类型复杂多样、测试成本过高、测试结果不准确等问题仍然制约着行业发展。怎么样才能解决锂电池安全问题，一直是全球自动化测试设备厂商技术研发的难点。近日，SPEA组织召开了题为“检测电池缺陷很重要：自动化测试的重要性”网络研讨会，重点分享电动汽车电池测试的三大挑战以及SPEA在电池测试领域的突破性科技成果。
12月1日，2023MWSChina将在上海嘉定喜来登酒店召开。本次峰会吸引了数百位来全球的半导体领先厂商及产业链领袖代表参与，他们将分享MEMS行业的前沿技术，深入探讨未来发展的新趋势，推动行业创新与发展。SPEA是全球自动化测试设备的领先厂商，持续突破测试技术瓶颈，打造了一批尖端性能的产品组合，为惯性、环境、光线、磁性、声学等MEMS传感器的测试精度和性能树
